本次(ci)分享以(yi)折線(xian)(xian)圖為核心,解讀(du)其衍生的(de)關鍵實用圖表(biao):折線(xian)(xian)圖(展(zhan)示(shi)趨勢)、線(xian)(xian)性(xing)回歸圖(探究關系)、誤(wu)差(cha)折線(xian)(xian)圖(量化誤(wu)差(cha))、ROC曲線(xian)(xian)(評估模型)、趨勢分析(xi)(識別多個及(ji)總體趨勢)。本文將(jiang)闡(chan)述各類線(xian)(xian)圖的(de)基(ji)本原理、圖表(biao)優化技巧,帶您拓展(zhan)折線(xian)(xian)圖的(de)應(ying)用邊界。
一、折線圖
顯(xian)示(shi)數據點隨時間(jian)、順序(xu)或(huo)其(qi)他連續變量而(er)變化的情況,并用(yong)直線段將(jiang)數據點依次連接起來。
二、線性(xing)回歸圖
線(xian)性回(hui)歸圖本質(zhi)上是散點圖與(yu)一條擬合的回(hui)歸直(zhi)線(xian)的結合。它用于(yu)可(ke)視化兩個(ge)連(lian)續變量之間的線(xian)性關系(xi),并評估這種關系(xi)的強度(du)、方(fang)向和確定性。
三、誤差折線圖
誤(wu)(wu)差折線(xian)圖(tu)是在(zai)折線(xian)圖(tu)的基礎上,在(zai)每個數(shu)據(ju)(ju)點處添加了誤(wu)(wu)差條。這些誤(wu)(wu)差條可以(yi)表(biao)示數(shu)據(ju)(ju)的變(bian)異性,如(ru)標準(zhun)差、標準(zhun)誤(wu)(wu)或置(zhi)信(xin)區間(jian)。
四、ROC曲線
是用(yong)于評估二(er)分類(lei)模型(xing)性能的圖表。它描繪了(le)模型(xing)在不同分類(lei)閾值下,“真正例率”和(he)“假正例率”之間的權衡關(guan)系。
五(wu)、趨勢(shi)分析
它通過對時間序(xu)列或(huo)條件序(xu)列的(de)基(ji)因(yin)表(biao)(biao)達(da)(da)(da)數據進行聚(ju)類和擬合(he),來識別具有(you)共(gong)同表(biao)(biao)達(da)(da)(da)模(mo)式的(de)基(ji)因(yin)群(cluster),并用折線圖展示每個cluster的(de)平均表(biao)(biao)達(da)(da)(da)趨勢。
百度搜索“派森諾基因云”,或直接訪問官方網站 //www.genescloud.cn/home,點擊進入“云(yun)圖匯(hui)”,通過輸入“ 折線圖 ”關鍵詞,開啟您的(de)(de)個(ge)性化(hua)體驗之旅(lv)。溫馨提(ti)示(shi):平臺(tai)現已正式接入DeepSeek-R1滿血版,您可(ke)以根據需求切(qie)換不同模型(xing)進(jin)行體驗。在繪圖(tu)過(guo)程(cheng)中,如果遇(yu)到常(chang)見問題(ti),建議先使(shi)用PAI繪圖(tu)小助(zhu)手進(jin)行自助(zhu)解決;若(ruo)有個(ge)性化(hua)需求或遇(yu)到無法解決的(de)(de)問題(ti),歡(huan)迎通過(guo)【工單中心】與平臺(tai)聯系(xi),提(ti)出您的(de)(de)需求或建議。派(pai)森諾(nuo)基因云始終秉持“持續(xu)創(chuang)新(xin),不斷升級”的(de)(de)理念,未來將(jiang)推出更多精美的(de)(de)可(ke)視化(hua)圖(tu)表(biao)與實用的(de)(de)分(fen)析工具,期待您的(de)(de)使(shi)用與反饋(kui)!