外顯子(zi)組(zu)測序需要多(duo)少的覆蓋深(shen)度？
測(ce)序(xu)深度(du)根據研究目的、樣本量(liang)及客戶的預期而定，建議有效(xiao)測(ce)序(xu)深度(du)100×以上，單基(ji)因遺傳病推(tui)薦至少100×，腫瘤(liu)等體細胞突變(bian)疾(ji)病推(tui)薦200×以上。
相對于(yu)芯片檢測(ce)(ce)，外顯子組測(ce)(ce)序有(you)何優勢(shi)？
相(xiang)對于芯片(pian)檢測(ce)(ce)，外顯子組(zu)測(ce)(ce)序(xu)(xu)可(ke)以(yi)檢測(ce)(ce)未(wei)知序(xu)(xu)列，考慮到引物的(de)Tm值，芯片(pian)只能(neng)檢測(ce)(ce)具有同(tong)一性的(de)片(pian)段，并且(qie)(qie)無法(fa)檢測(ce)(ce)低(di)拷貝的(de)序(xu)(xu)列，且(qie)(qie)背景噪音較大。相(xiang)對于基因組(zu)測(ce)(ce)序(xu)(xu)，外顯子組(zu)測(ce)(ce)序(xu)(xu)目(mu)標明確，數據量(liang)小
