外顯子組測序需要多少的覆(fu)蓋(gai)深度？
測序(xu)深度根(gen)據研究目(mu)的(de)、樣本量及客(ke)戶的(de)預期而定(ding)，建議有(you)效(xiao)測序(xu)深度100×以上(shang)，單基(ji)因遺(yi)傳(chuan)病(bing)推薦(jian)至少100×，腫瘤等體細胞突變疾(ji)病(bing)推薦(jian)200×以上(shang)。
相(xiang)對于芯片檢測(ce)，外顯子(zi)組測(ce)序有何(he)優勢？
相對(dui)于(yu)芯片(pian)檢測，外顯子(zi)組測序(xu)可以檢測未(wei)知(zhi)序(xu)列，考慮到引物的Tm值，芯片(pian)只能檢測具有(you)同一性的片(pian)段，并且無法(fa)檢測低拷(kao)貝的序(xu)列，且背景噪音較大。相對(dui)于(yu)基因組測序(xu)，外顯子(zi)組測序(xu)目標明確，數據量小(xiao) ;
